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PlantScreen高通量表型組學(xué)平臺(tái)研究葉片衰老
發(fā)布時(shí)間: 2020-06-28 點(diǎn)擊次數(shù): 1964次韓國(guó)大邱基礎(chǔ)科學(xué)研究所Jeongsik Kim、Pyung Ok Lim等,利用PlantScreen大型高通量表型組學(xué)研究平臺(tái),對(duì)植物葉片衰老進(jìn)行了系列研究(參見(jiàn)論文:Jae IL Lyu etc. 2017. High-throughput and computational study of leaf senescence through a phenomic approach. Frontiers in Plant Science):
研究綜合利用了平臺(tái)的葉綠素?zé)晒獬上?、VNIR高光譜成像、SWIR高光譜成像、RGB成像、紅外熱成像等高通量表型分析技術(shù)及系統(tǒng)提供的葉片跟蹤分析功能(leaf tracking analysis),在線采集分析了150個(gè)表型性狀參數(shù),包括四十多個(gè)葉綠素?zé)晒鈪?shù)、近百個(gè)高光譜植物光譜反射指數(shù)參數(shù),全面研究分析了擬南芥葉片生活周期及衰老表型組學(xué)。
易科泰生態(tài)技術(shù)公司提供植物表型組學(xué)全面技術(shù)方案:
1)FluorPen手持式葉綠素?zé)晒鈨x、PlantPen/PolyPen手持葉夾式高光譜儀,提供方便實(shí)用、功能全面的手持式葉片水平(leaf-level)表型測(cè)量技術(shù)和監(jiān)測(cè)技術(shù)
2)便攜式葉綠素?zé)晒獬上?、高光譜成像、紅外熱成像、光合作用與葉綠素?zé)晒獬上駨?fù)合系統(tǒng),為大田作物表型組學(xué)研究提供方便實(shí)用、功能全面的便攜式葉片水平和冠層水平表型測(cè)量技術(shù)
3)實(shí)驗(yàn)室臺(tái)式表型成像分析系統(tǒng)、作物種質(zhì)資源檢測(cè)系統(tǒng),F(xiàn)luorCam葉綠素?zé)晒獬上?、高光譜成像、紅外熱成像、RGB成像等表型分析全面技術(shù)方案
4)大型高通量植物表型系統(tǒng)集成方案/PlantScreen表型分析平臺(tái)
a)FluorCam葉綠素?zé)晒獬上窦夹g(shù),植物生理功能表型分析主流技術(shù)
b)多光譜熒光成像分析技術(shù),多激發(fā)光、多光譜熒光,初級(jí)代謝、次級(jí)代謝表型組學(xué)研究
c)VNIR高光譜、SWIR高光譜成像分析技術(shù)
d)RGB 3D形態(tài)結(jié)構(gòu)與顏色成像分析
e)高分辨率紅外熱成像分析
f)3D激光掃描分析
g)高通量根系分析
h)自動(dòng)澆灌與稱重
5)野外大田表型分析技術(shù)
a)Thermo-RGB紅外熱成像與RGB成像融合技術(shù)
b)Specim高光譜成像技術(shù)
c)Ecodrone®無(wú)人機(jī)遙感與近地遙感技術(shù)
d)PhenoPlot輕便型表型分析系統(tǒng)
e)SpectraScan大型高通量表型分析平臺(tái)