巖心高光譜成像掃描技術在地礦領域有著重要的應用前景，可以提供礦物填圖、豐度評估、礦脈走向預測等一系列數據，但對很多地質*來說，無法快速將光譜結果進行分析和地理信息融合是限制高光譜技術走向應用的門檻所在，針對這一現象，易科泰樣芯分析技術現推出基于云服務的地礦高光譜成像分析解決方案，旨在為地礦高光譜大數據采集、數據庫建設及在線分析填圖提供技術支持。

SisuRock多樣芯高通量高光譜成像掃描分析系統(tǒng)，集合高分辨率可見光、VISIR（可見光近紅外波段）、SWIR（短波紅外）、MWIR（中波紅外）及LWIR（長波紅外）等傳感器，可對大量巖礦樣芯、土壤樣芯等進行快速、高通量的光譜數據獲取。

基于云服務的地礦高光譜成像分析平臺可對SisuRock掃描所得樣芯數據進行自動樣本提取，提供數據去噪、礦物填圖、圖像分割等處理服務，還可定制包含相關地質信息的3D模型，實現光譜數據的快速解譯和應用。

 

• 應用案例：斑巖礦樣芯的礦物填圖和礦脈探測

來自德國亥姆霍茲聯(lián)合會資源技術研究所的Laura Tusa等(Mineralization et al., 2019)研究人員，在羅馬尼亞的Bolcana地區(qū)，使用SisuROCK樣芯分析設備搭配AisaFENIX VNIR-SWIR 高光譜傳感器采集了當地斑巖礦樣芯的數據進行分類分析。為了更好的呈現礦脈的走向，研究人員根據光譜圖像中的曲線結構進行數據分離，得到了如下礦脈分布圖。

左：圖DC1,DC2和DC3分別為三個樣芯。其中I為樣芯的RGB圖，II為基于高通量高光譜數據的礦物填圖，III為提取后的礦脈分布圖。
右：圖SEM-MLA和HSI分析結果對比圖。DC1,DC2和DC3分別為三個樣芯，其中I為SEM-MLA全分辨率礦物填圖，II為基于高光譜高通量數據的礦物填圖，III為SEM-MLA數字化提取特征后的礦脈分布圖，IV為基于HSI提取的礦脈分布圖
為了驗證高光譜成像（HSI）分類結果的有效性，科研人員同時使用了高分辨率掃描電子顯微鏡搭配礦相解離分析儀（SEM-MLA），得到分辨率更高的礦脈分布圖，并提取其特征與高光譜數據結果進行比對，結果發(fā)現高光譜分析得到的礦脈走向與SEM-MLA結果偏差小于4.5^o，其厚度準確率平均值達到了81%。證明高光譜掃描技術可以可靠的實現更快速、無損且有效的礦物識別和填圖繪制，為完善地質學家的樣芯分析提供了有效的工具。
 
易科泰生態(tài)技術公司SpectrAPP光譜成像創(chuàng)新應用項目、易科泰光譜成像與無人機遙感研究中心（西安）為您提供地質礦產勘查全面解決方案
 

• VISIR、SWIR、MWIR、LWIR不同波段高光譜成像分析
• SisuROCK高通量多樣芯高光譜成像分析技術方案
• SisuSCS單樣芯高光譜成像分析技術方案
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